開発設計者の困ったを解決する
アジレントの設計提案

　2009年11月18〜20日の3日間、組み込み関連の最先端テクノロジーや基幹技術が多数集結する「組込み総合技術展 Embedded Technology 2009（以下、ET2009）」が開催される。

　＠IT MONOistでは今年も特設ページを設け、展示会開催前から出展各社の見どころや今年のメイン製品などを紹介していく。

　今回はアジレント・テクノロジーに今年の同社ブースの見どころを伺った。

組み込み開発設計者の困ったを解決！

――ET2009での展示テーマは？

　今年のETは、「DDRメモリ回路周辺の測定・デバッグ環境」「FPGA回路周辺の測定・デバッグ環境」「組み込み機器の測定・デバッグツール」「そのほか新製品（SATA用プロトコル・アナライザ、汎用オシロスコープ、USBプロトコル・アナライザ内蔵オシロスコープ、ハンドヘルドLCRメータ、ハンドヘルド・マルチメータ）」の4テーマで展示する。併せて、ブース内では各種測定手法・トレンドを解説するミニセミナー（常時）も予定している。

Agilent Infiniium DSO/MSO9000シリーズ オシロスコープ

――出展製品概要とアピールポイントを教えてください

　展示ブースでは、組み込み機器の開発設計者にとって“問題解決への近道”となる最新のデバッグ・評価手法を紹介する。さらにブース内ではDDRメモリのトラブル時に大好評をいただいているInfiniiScanトリガ機能や、システムのボトルネックを特定できるDDRアナライザなども実際に操作いただくことで、デバッグに必要となる機能を実際に体験いただけるようにした。そのほか、近年注目されているDDRメモリやFPGA、各種シリアル通信規格（USB、PCI Express、SATA、HDMI、LVDSなど）のソリューションや新製品を用意している。

Agilent 16800シリーズ ロジックアナライザ

――近年の組み込み業界の市場動向や課題と、それに対するアジレントのソリューションについて

　近年の組み込み業界は（組み込み）機器の実装の高密度化と、複数バス／インターフェイスにまたがるデバッグ・測定が求められている。また、トラブルシュートにおいても多面的に現象をとらえる必要が生じている。

　アジレントでは、高密度化・BGA化したパッケージへのさまざまなプロービングを用意することで、測定ができる環境を作り出し、かつMSOや電源アナライザをはじめとする単体測定器であっても多面的な切り口を提供できることで（デジタル・アナログ・シリアルを同時にモニタするなど）、デバッグ時間・工数の短縮に貢献する。

――組み込み専門展として注目が高まるET2009。アジレントがこの展示会に期待するものは？

　現場を知るエンジニアの方々へ直接製品を紹介・アピールできること、および現場を知るエンジニアから測定器メーカーへの直接のフィードバックを得る機会として期待している。

――昨年（ET2008）と今年（ET2009）とでの出展内容の違い

　今年は出展ブース内でコーナー分けを行い、DDR、FPGA、組み込み機器をキーワードに実際のエンジニアが測定・デバッグを行う環境に限りなく近い状況を展示する。また、併せて新製品紹介コーナーも別途ご用意している。

――2009年組み込み業界最大のトピックスは？（注目したトピックスは？）

　新規格「Light Peak」「HDMI1.4 CTS」の発表やUSB3.0の今後の市場への浸透度、電磁界シミュレーションと実測波形との融合に注目している。

展示会名	組込み総合技術展 Embedded Technology 2009（ET2009）
開催日	2009年11月18日（水）から20日（金）
会場	パシフィコ横浜
ブース番号	A-21

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