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» 2016年02月03日 15時47分 UPDATE

SoCのテスト時間を3分の1にするテストソリューション、ケイデンス「Modus」

ケイデンスがSoC設計のテスト時間を最短で3分の1に短縮可能なDFTツール「Modus Test Solution」を発表した。

[MONOist]
hi_cad01.jpg 「Modus Test Solution」

 Cadense Design Systemsは2016年2月2日(米国時間)、SoC(System on Chip)設計のテスト時間を「最短で3分の1に短縮可能」(同社)なテストツール「Modus Test Solution」を発表した。

 新ツールは「2D Elastic Compression」と呼ぶアーキテクチャの導入により、デザインサイズや配線に影響を与えずに400倍を超える圧縮率を実現しており、加えて、ATPG(automatic test pattern generation)の実行中に複数スキャンサイクルをまたいだケアビット制御が可能であることから、高圧縮であっても高い故障検出率を維持している。

 またIPコア内蔵メモリのセルフテスト(PMBIST)実行時にシェアードテストアクセスバスを挿入可能であり、FinFET SRAMや自動車の安全性アプリケーションなどのテストアルゴリズムも挿入できる。DFTロジックやGenusなどで共有される新しく統合されたTCLスクリプト記述およびデバッグ環境を用いるATPG機能も用意されている。

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