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» 2016年04月22日 15時30分 UPDATE

KDDIがIoTデバイス開発を支援、同社ネットワークとの相互接続性を検証

KDDIがメーカーおよび開発者向けに、同社ネットワークとの相互情報や接続性検証を行うサイトをオープン。IoTデバイスの開発をサポートする。

[渡邊宏,MONOist]
「au OPEN DEVICE DEVELOPER SITE」 「au OPEN DEVICE DEVELOPER SITE」

 KDDIは2016年4月22日、同社ネットワークへの接続に必要な情報や接続確認済み機器の一覧、接続試験の申し込みまでを一元化した技術支援サイト「au OPEN DEVICE DEVELOPER SITE」を開設した。デバイスメーカーや開発者向けにLTEネットワークへの接続情報を公開することで、IoTデバイスの開発をサポートする狙い。

 サイトではKDDIのネットワークに接続するための技術要件や接続実験/試験環境に関する情報、試験実施の際の手続きフローなどが公開されており、相互接続性試験を実施したデバイスの情報も順次公開される。

 相互接続性検証(の対象となるのは、通信モジュールを含むモバイル通信機器全般とされており、通信サービスは2.1GHz/1.5GGHz/800GMHz/700MHz帯のLTEとなる(CDMAは対象外)。対象デバイスに制約はなく同社ネットワークに接続可能な機器であれば検証を受けられるが、製品の種別および使用に応じた試験費用が発生する。

 サイトの開設にあわせ、LTE UE カテゴリー1(Cat.1)に対応したQualcomm社製チップセットおよびAltair Semiconductor社製チップセットも同社ネットワークに対応したことが明らかにされた。

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